分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)

分辨率测试卡(斜边ISO 12233:2014)简介

分辨率测试卡TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。该测试卡在2014年2月发布的ISO标准12233的修订版中指定。

在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO 12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。

分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO 12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。

斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。

三个黑点可用于目标的自动检测。这种不对称布置的结构还有助于检查和校正目标的取向。

分辨率测试卡TE275可以使用框线和箭头用于4：3或3：2宽高比。

16个OECF色块的反射率和排列符合ISO 14524.通过对这些色块的分析，可以确定OECF并且线性化图像数据。

OECF色块、背景和斜边的参考：